インサーキットテスタ

インサーキットチェッカー　 ピンを接触させ基板回路内の断線・ショート・部品の定数・
　　　　　　　　　　　　　　　　　　半導体等のチェックを行なう
　　　　　　　　　　　　　　　　　　（インラインチェッカー・CRDチェッカー・DCチェッカー
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　コンパレータ等の別名もあり）

Lは（１μH〜４００H)　Cは（１０ｐH〜４００mF） 　　Rは（０．４Ω〜４０MΩ）の範囲で測定可能 　　最大１００００の測定ステップ数 　　フォトカプラ・デジタルトランジスタも検出 　　多彩なオプション 　　電解コンデンサの逆挿入検出 　　ハイスキャン（ICの足浮き検出）

最小プローブ間ピッチ０．２mm 　　自動位置補正機能標準装備 　　簡易ビジュアルテスト機能付 　　搬送系標準装備 　　５０X５０mm〜５００X４００mmまでの基板に対応 　　ﾌﾟﾛｰﾋﾞﾝｸﾞ精度は±１００μmで移動反復精度は±５０μm 　　４端子抵抗測定方式によりICリードの擬似接触を検出

インサーキットハイテスタの機能を低価格でコンパクトに 広範囲の測定 測定ステップ数、最大１００００ステップ LCR分離測定機能で高検出率 １ステップ当たり５ポイントのガーディング ホトカプラ・デジタルトランジスタも検出 ピンコンタクトチェック機能 計測時の波形表示が出来ウエイト時間の 設定などデバック時活用可能